免费观看黄一级视频,可以免费在线看黄的网站,欧美视频日韩视频,精品国产黄a∨片高清在线

預存

登錄注冊

相關項目課程/視頻資訊/文章

相關項目 ? TOF

靜態二次離子質譜（TOF-SIMS）

已預約6917次

平均周期6.5天 | 總體滿意度99.85%

立即預約

質譜儀（MS）

已預約6061次

平均周期5.2天 | 總體滿意度98.6%

立即預約

基質輔助激光解吸-飛行時間質譜儀（MALDI-TOF-MS）

已預約3675次

平均周期6.4天 | 總體滿意度98.1%

立即預約

二維/三維化學組成分布

已預約527次

平均周期10天 | 總體滿意度99.8%

立即預約

未找到需求？
試試以下方式:

發布需求

在線溝通

課程/視頻 ? TOF

TOF-SIMS基本內容及案例分析

肖老師

免費

TOF-SIMS測試流程

測試GO

免費

資訊/文章 ? TOF

更多

表征技術：飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）

飛行時間二次離子質譜（ TOF-SIMS ）是一種結合二次離子質譜與飛行時間質量分析器的表面表征技術。該技術由 Beninghoven 教授團隊于 20 世紀 80 年代初首次研制，后經多次迭代升級，在分析性能、數據處理效率及軟件操作性方面均取得顯著提升。如今， TOF-SIMS 已成為成熟且應...

2025-09-15

2157次瀏覽

轉發

二次離子質譜大科普！TOF-SIMS實例分析

二次離子質譜大科普！ TOF-SIMS 實例分析二次離子質譜（ Secondary Ion Mass Spectrometry ， SIMS ）是一種非常靈敏的表面分析技術，通過用一次離子激發樣品表面，打出的二次離子因質量不同而飛行到探測器的時間不同，實現不同元素、同位素及分子結構的探測。一、...

2024-01-19

9057次瀏覽

轉發

表面分析利器——TOF-SIMS飛行時間二次離子質譜儀

TOF-SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通過用一次離子激發樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據二次離子因不同的質量而飛行到探測器的時間不同來測定離子質量的極高分辨率的測量技術。 TOF-SIMS具有極高分辨率，可以提供表面...

2023-12-11

7618次瀏覽

轉發

TOF-SIMS幾種不同濺射源的選擇

TOF-SIMS最早應用于靜態SIMS，但隨著技術的發展迭代，TOF-SIMS也配備了濺射源，用于深層界面的分析和深度剖析。目前用于濺射的主要有雙束離子源（DSC）、氣體團簇離子源（GCS）、FIB三種，本文將以M6為原型介紹這三種濺射源的性能、參數和實際應用。雙束離子源（DSC O2/Cs） ...

2023-12-11

7003次瀏覽

轉發