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X射線衍射方法有哪些細分的測試項目？

來源：測試GO 時間：2022-11-17 13:43:43 瀏覽：5655次

X射線衍射（XRD）是目前研究材料結構和成分分析最有效的方法，同時X射線衍射測試根據測試的條件以及樣品種類等其他實驗因素不同，可以區(qū)分成不同的X射線衍射測試（包括：廣角XRD、小角XRD、變溫XRD、微區(qū)XRD、掠入射XRD等）。測試狗工作人員整合了海量資料來給大家講解一下X射線衍射的項目歸類。

微區(qū)XRD

當需要測試某一個小區(qū)域的XRD圖譜時，可用微區(qū)XRD測試。因為儀器限制，通常區(qū)域最小為5*5mm。由于微區(qū)XRD測試光斑較小，所以衍射產生的能量也相對少一些，所以測試時，掃描速度和常規(guī)XRD測試相比會更慢，掃的時間也越長。例：需要測試塊體樣品（尺寸要求是長寬一般1-2 cm，厚度不超過5 mm）上面某一個或一些小區(qū)域的XRD，就可以用微區(qū)XRD來測試。

廣角XRD

廣角、小角XRD因測試角度范圍而得名，廣角即測試范圍為10-120°，常規(guī)廣角測到90°即可，有機材料或者有機金屬配位材料一般測到四五十度也是可以的。廣角XRD是最常用到的測試條件，有機、無機材料判斷晶型、物相類型、PDF卡片等基本都是通過廣角XRD測試得到的譜圖分析得到的。一般大家口中的XRD，沒有特別說明測試條件的都是指的廣角XRD，有時為了區(qū)別于塊體薄膜這些樣品形態(tài)的，也叫PXRD，即粉末XRD。

小角XRD

小角XRD和廣角XRD對應，即測試低角度區(qū)域，稱為小角XRD，測試范圍一般為0.5-10°。小角XRD一般可以探測到更多的微觀信息，比如介孔樣品除了做物理吸脫附的表征，也可以通過測試小角XRD驗證介孔是否規(guī)整。

變溫XRD

變溫XRD，顧名思義，就是改變溫度測試XRD，可測溫度范圍是-40~1450℃，測試氣氛可以是空氣、氮氣、氬氣、真空或者二氧化碳。一般情況下需要設置測試的溫度點，如室溫、100 ℃、300 ℃、500 ℃等，升溫速率以及XRD的角度測試范圍。此外，還要求樣品在測試溫度范圍內不熔化。

掠入射XRD

掠入射XRD（GIXRD）是專門用來測試薄膜樣品的手段。測試光是平行光，相對于常規(guī)的衍射光來說能量較小，因此掠入射測試XRD的譜圖絕對峰強相對較弱。但是平行光可以更好的關注薄膜表面的信息，也不容易測到基底，因此掠入射XRD專門用于測試薄膜樣品。薄膜尺寸沒有特別要求，但是需要測試面平整光潔，不要有遮擋物，這樣測試結果才真實可信。

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